Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction
Vše od
Imperial College Press
ISBN: 9781848165366
Presents an introduction to practical aspects of atomic-resolution imaging in aberration-corrected electron microscopy. This book addresses advances in electron optical instrumentation used for ultra-high resolution imaging in materials and nano-science.
2 262 Kč
- 1 - 2 ks
- 2 262 Kč
- 3 - 10 ks
- 2 240 Kč
- 11 a více ks
- 2 218 Kč
Naše cena 2 262 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 2 406 Kč.
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Imperial College Press ↓
2 262 Kč
Více o produktu ↓
Presents an introduction to practical aspects of atomic-resolution imaging in aberration-corrected electron microscopy. This book addresses advances in electron optical instrumentation used for ultra-high resolution imaging in materials and nano-science.
- Výrobce
- Imperial College Press
- Jazyk
- United Kingdom
- Autor
- Erni, Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science & Technology (Empa), Switzerland)
- Rozměry
- 254 x 175 x 20
- Rok vydání
- 2010
- Počet stran
- 348
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 768
- Počet stran
- 348 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
