Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)
Vše od
Imperial College Press
ISBN: 9781783265282
Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy provides an introduction to aberration-corrected atomic-resolution electron microscopy imaging in materials and physical sciences.
2 673 Kč
- 1 - 2 ks
- 2 673 Kč
- 3 - 10 ks
- 2 647 Kč
- 11 a více ks
- 2 621 Kč
Naše cena 2 673 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 2 844 Kč.
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Imperial College Press ↓
2 673 Kč
Více o produktu ↓
Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy provides an introduction to aberration-corrected atomic-resolution electron microscopy imaging in materials and physical sciences.
- Výrobce
- Imperial College Press
- Jazyk
- United Kingdom
- Autor
- Erni, Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science & Technology (Empa), Switzerland)
- Rozměry
- 238 x 160 x 23
- Rok vydání
- 2015
- Počet stran
- 432
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 802
- Počet stran
- 432 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition) a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
