Active Probe Atomic Force Microscopy
A Practical Guide on Precision Instrumentation
Vše od
Springer International Publishing AG
ISBN: 9783031442322
From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).
2 350 Kč
- 1 - 2 ks
- 2 350 Kč
- 3 - 10 ks
- 2 327 Kč
- 11 a více ks
- 2 304 Kč
Naše cena 2 350 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 2 500 Kč.
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Springer International Publishing AG ↓
2 350 Kč
Více o produktu ↓
From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).
- Výrobce
- Springer International Publishing AG
- Jazyk
- Switzerland
- Autor
- Xia, Fangzhou;Rangelow, Ivo W.;Youcef-Toumi, Kamal
- Rozměry
- 235 x 155
- Rok vydání
- 2024
- Počet stran
- 366
- Obsah
- Hardback
- Počet stran
- 366 pages, 125 Illustrations, color; 13 Illustrations, black and white
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Active Probe Atomic Force Microscopy a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
