Advances in x-Ray Analysis
Proccedings of the Forty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held in Denver, Colorado, August 2-6,
Vše od
Kluwer Academic Publishers Group
ISBN: 9780306449017
Advances in x-Ray Analysis od autora John V. Gilfrich (Sachs/Freeman Associates/NRL, Washington, DC, USA) vydalo nakladatelství Kluwer Academic Publishers Group s podtitulem Proccedings of the Forty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held in Denver, Colorado, August 2-6,...
2 115 Kč
- 1 - 2 ks
- 2 115 Kč
- 3 - 10 ks
- 2 094 Kč
- 11 a více ks
- 2 074 Kč
Naše cena 2 115 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 2 250 Kč.
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Kluwer Academic Publishers Group ↓
2 115 Kč
Více o produktu ↓
- Výrobce
- Kluwer Academic Publishers Group
- Jazyk
- Netherlands
- Autor
- John V. Gilfrich (Sachs/Freeman Associates/NRL, Washington, DC, USA)
- Rok vydání
- 1994
- Počet stran
- 778
- Obsah
- Hardback
- Počet stran
- 778 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Advances in x-Ray Analysis a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
