Angewandte Oberflachenanalyse Mit Sims, AES Und XPS
Vše od
De Gruyter
ISBN: 9783112702666
Angewandte Oberflachenanalyse Mit Sims, AES Und XPS od autora Grasserbauer, Manfred;Dudek, Hans Joachim;Ebel, Maria F vydalo nakladatelství De Gruyter ...
3 672 Kč
- 1 - 2 ks
- 3 672 Kč
- 3 - 10 ks
- 3 636 Kč
- 11 a více ks
- 3 600 Kč
Předpoklad doručení do 4. července *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od De Gruyter ↓
Die Lichtverteilung Im Grossen in Der Brennebene Des Photographischen Objektivs
do 4. července3 672 Kč
3 672 Kč
Více o produktu ↓
- Výrobce
- De Gruyter
- Jazyk
- Germany
- Autor
- Grasserbauer, Manfred;Dudek, Hans Joachim;Ebel, Maria F
- Rozměry
- 244 x 170 x 19
- Rok vydání
- 1986
- Počet stran
- 312
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 707
- Počet stran
- 312 pages, Illustrations
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Angewandte Oberflachenanalyse Mit Sims, AES Und XPS a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
