Atom-Probe Field Ion Microscopy
Field Ion Emission, and Surfaces and Interfaces at Atomic Resolution
Vše od
Cambridge University Press
ISBN: 9780521019934
Atom-probe field ion microscopy is the only technique capable of imaging solid surfaces with atomic resolution, while chemically analysing surface atoms selected by the observer from the field ion image. This book presents the basic principles and illustrates the capabilities of the technique in...
1 688 Kč
- 1 - 2 ks
- 1 688 Kč
- 3 - 10 ks
- 1 671 Kč
- 11 a více ks
- 1 655 Kč
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Cambridge University Press ↓
1 688 Kč
Více o produktu ↓
Atom-probe field ion microscopy is the only technique capable of imaging solid surfaces with atomic resolution, while chemically analysing surface atoms selected by the observer from the field ion image. This book presents the basic principles and illustrates the capabilities of the technique in the study of solid surfaces and interfaces at atomic resolution.
- Výrobce
- Cambridge University Press
- Jazyk
- United Kingdom
- Autor
- Tsong, Tien T. (Pennsylvania State University)
- Rozměry
- 234 x 157 x 22
- Rok vydání
- 2005
- Počet stran
- 400
- Obsah
- Paperback / softback
- Hmotnost
- 556
- Počet stran
- 400 pages, Worked examples or Exercises
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Atom-Probe Field Ion Microscopy a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
