Atom Probe Microscopy

Gault, Baptiste;Moody, Michael P.;Cairney, Julie M.;Ringer, Simon P. | Autoři

Vše od Springer-Verlag New York Inc.
ISBN: 9781489989390

This book covers all facets of atom probe microscopy—including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography. Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels.

Více o produktu


Nejprodávanější produkty v aktuálním měsíci.

7 212 Kč

1 - 2 ks
7 212 Kč
3 - 10 ks
7 141 Kč
11 a více ks
7 071 Kč

Naše cena 7 212 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 7 672 Kč.

Předpoklad doručení do 2. června *

* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.

7 212 Kč 7 672 Kč

Nepřehlédněte od Springer-Verlag New York Inc.

Více o produktu

This book covers all facets of atom probe microscopy—including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography. Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels.

Výrobce
Springer-Verlag New York Inc.
Jazyk
United States
Autor
Gault, Baptiste;Moody, Michael P.;Cairney, Julie M.;Ringer, Simon P.
Rozměry
155 x 233 x 28
Rok vydání
2014
Počet stran
396
Obsah
Paperback / softback
Hmotnost
646
Počet stran
396 pages, XXIV, 396 p.

Zanechte své hodnocení

Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Atom Probe Microscopy a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.

Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!