Atom-Probe Tomography
The Local Electrode Atom Probe
Vše od
Springer-Verlag New York Inc.
ISBN: 9781489974297
Nanocharacterization by Atom Probe Tomography is a practical guide for researchers interested atomic level characterization of materials with atom probe tomography. Readers will find descriptions of the atom probe instrument and atom probe tomography technique, field ionization, field...
3 819 Kč
- 1 - 2 ks
- 3 819 Kč
- 3 - 10 ks
- 3 781 Kč
- 11 a více ks
- 3 744 Kč
Naše cena 3 819 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 4 062 Kč.
Předpoklad doručení do 30. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Springer-Verlag New York Inc. ↓
3 819 Kč
Více o produktu ↓
Nanocharacterization by Atom Probe Tomography is a practical guide for researchers interested atomic level characterization of materials with atom probe tomography. Readers will find descriptions of the atom probe instrument and atom probe tomography technique, field ionization, field evaporation and field ion microscopy.
- Výrobce
- Springer-Verlag New York Inc.
- Jazyk
- United States
- Autor
- Miller, Michael K.;Forbes, Richard G.
- Rozměry
- 242 x 163 x 23
- Rok vydání
- 2014
- Počet stran
- 423
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 766
- Počet stran
- 423 pages, 62 Illustrations, color; 120 Illustrations, black and white; XVIII, 423 p. 182 illus., 62
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Atom-Probe Tomography a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
