Atomic Force Microscopy

Understanding Basic Modes and Advanced Applications

Haugstad, Greg | Autoři

Vše od John Wiley & Sons Inc
ISBN: 9780470638828

This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM).

Více o produktu


Nejprodávanější produkty v aktuálním měsíci.

3 876 Kč

1 - 2 ks
3 876 Kč
3 - 10 ks
3 838 Kč
11 a více ks
3 800 Kč

Naše cena 3 876 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 4 124 Kč.

Předpoklad doručení do 18. června *

* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.

3 876 Kč 4 124 Kč

Nepřehlédněte od John Wiley & Sons Inc

Více o produktu

This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM).

Výrobce
John Wiley & Sons Inc
Jazyk
United States
Autor
Haugstad, Greg
Rozměry
244 x 163 x 31
Rok vydání
2012
Počet stran
528
Obsah
Hardback
Hmotnost
794
Počet stran
528 pages

Zanechte své hodnocení

Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Atomic Force Microscopy a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.

Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!