Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching

Application to Rough and Natural Surfaces

Kaupp, Gerd | Autoři

Vše od Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
ISBN: 9783540284055

Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in the submicron range down to...

Více o produktu


Nejprodávanější produkty v aktuálním měsíci.

5 287 Kč

1 - 2 ks
5 287 Kč
3 - 10 ks
5 235 Kč
11 a více ks
5 183 Kč

Naše cena 5 287 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 5 625 Kč.

Předpoklad doručení do 27. května *

* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.

5 287 Kč 5 625 Kč

Nepřehlédněte od Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Více o produktu

Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in the submicron range down to a lateral resolution of a few nm.

Výrobce
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Jazyk
Germany
Autor
Kaupp, Gerd
Rozměry
235 x 155
Rok vydání
2006
Počet stran
292
Obsah
Hardback
Počet stran
292 pages, XII, 292 p.

Zanechte své hodnocení

Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.

Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!