Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Vše od
Cambridge University Press
ISBN: 9780521554909
This is a clear account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Written by leading experts, it provides a comprehensive review of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and scanning transmission electron microscopy,...
4 438 Kč
- 1 - 2 ks
- 4 438 Kč
- 3 - 10 ks
- 4 394 Kč
- 11 a více ks
- 4 351 Kč
Předpoklad doručení do 30. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Cambridge University Press ↓
4 438 Kč
Více o produktu ↓
This is a clear account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Written by leading experts, it provides a comprehensive review of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and scanning transmission electron microscopy, together with details of each technique and its applications.
- Výrobce
- Cambridge University Press
- Jazyk
- United Kingdom
- Rozměry
- 177 x 251 x 32
- Rok vydání
- 2000
- Počet stran
- 406
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 864
- Počet stran
- 406 pages, 3 Tables, unspecified; 152 Halftones, unspecified; 115 Line drawings, unspecified
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
