CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Vše od
Materials Research Society
ISBN: 9781605111285
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
3 094 Kč
- 1 - 2 ks
- 3 094 Kč
- 3 - 10 ks
- 3 063 Kč
- 11 a více ks
- 3 033 Kč
Předpoklad doručení do 28. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Materials Research Society ↓
3 094 Kč
Více o produktu ↓
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
- Výrobce
- Materials Research Society
- Jazyk
- United States
- Rozměry
- 236 x 160 x 14
- Rok vydání
- 2009
- Počet stran
- 194
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 430
- Počet stran
- 194 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
