CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability
Vše od
Springer Verlag, Singapore
ISBN: 9789811008825
The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and circuits.
1 322 Kč
- 1 - 2 ks
- 1 322 Kč
- 3 - 10 ks
- 1 309 Kč
- 11 a více ks
- 1 296 Kč
Naše cena 1 322 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 1 406 Kč.
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Springer Verlag, Singapore ↓
Interplay of Geo-Politics and Geo-Economics in PakistanÂ’s Foreign Policy (Post-2008)
do 27. května3 231 Kč
1 322 Kč
Více o produktu ↓
The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and circuits.
- Výrobce
- Springer Verlag, Singapore
- Jazyk
- Singapore
- Autor
- Yuan, Jiann-Shiun
- Rozměry
- 235 x 155
- Rok vydání
- 2016
- Počet stran
- 106
- Obsah
- Paperback / softback
- Počet stran
- 106 pages, 101 Illustrations, black and white; VI, 106 p. 101 illus.
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
