Critical Examination of STEM

Issues and Challenges

Bowers, Chet | Autoři

Vše od Taylor & Francis Ltd
ISBN: 9781138659087

Critical Examination of STEM od autora Bowers, Chet vydalo nakladatelství Taylor & Francis Ltd s podtitulem Issues and Challenges...

Více o produktu


Nejprodávanější produkty v aktuálním měsíci.

1 625 Kč

1 - 2 ks
1 625 Kč
3 - 10 ks
1 609 Kč
11 a více ks
1 593 Kč

Předpoklad doručení do 27. května *

* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.

1 625 Kč

Nepřehlédněte od Taylor & Francis Ltd

Více o produktu

Výrobce
Taylor & Francis Ltd
Jazyk
United Kingdom
Autor
Bowers, Chet
Rozměry
206 x 230 x 12
Rok vydání
2016
Počet stran
124
Obsah
Paperback / softback
Hmotnost
224
Počet stran
124 pages

Zanechte své hodnocení

Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Critical Examination of STEM a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.

Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!