Defects in Microelectronic Materials and Devices
Vše od
Taylor & Francis Inc
ISBN: 9781420043761
Presents a survey of defects that occur in silicon-based metal-oxide semiconductor field-effect transistor (MOSFET) technologies. This book discusses flaws in linear bipolar technologies, silicon carbide-based devices, and gallium arsenide materials and devices.
6 250 Kč
- 1 - 2 ks
- 6 250 Kč
- 3 - 10 ks
- 6 188 Kč
- 11 a více ks
- 6 127 Kč
Předpoklad doručení do 3. června *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Taylor & Francis Inc ↓
6 250 Kč
Více o produktu ↓
Presents a survey of defects that occur in silicon-based metal-oxide semiconductor field-effect transistor (MOSFET) technologies. This book discusses flaws in linear bipolar technologies, silicon carbide-based devices, and gallium arsenide materials and devices.
- Výrobce
- Taylor & Francis Inc
- Jazyk
- United States
- Rozměry
- 260 x 185 x 42
- Rok vydání
- 2008
- Počet stran
- 770
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 1520
- Počet stran
- 770 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Defects in Microelectronic Materials and Devices a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
