Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability
Vše od
Taylor & Francis Inc
ISBN: 9781584884712
Presents theory and methods for recognizing and handling the more complicated cases often encountered in practice. This work integrates a physical understanding of underlying phenomena and the statistical modeling of observation 'noise' to provide a single theoretical framework for accelerated...
1 844 Kč
- 1 - 2 ks
- 1 844 Kč
- 3 - 10 ks
- 1 826 Kč
- 11 a více ks
- 1 808 Kč
Předpoklad doručení do 29. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Taylor & Francis Inc ↓
1 844 Kč
Více o produktu ↓
Presents theory and methods for recognizing and handling the more complicated cases often encountered in practice. This work integrates a physical understanding of underlying phenomena and the statistical modeling of observation 'noise' to provide a single theoretical framework for accelerated testing.
- Výrobce
- Taylor & Francis Inc
- Jazyk
- United States
- Autor
- LuValle, Michael J.;LeFevre, Bruce G.;Kannan, SirRaman
- Rozměry
- 234 x 156
- Rok vydání
- 2004
- Počet stran
- 248
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 476
- Počet stran
- 248 pages, 7 Tables, black and white; 130 Illustrations, black and white
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
