Design for Testability, Debug and Reliability
Next Generation Measures Using Formal Techniques
Vše od
Springer Nature Switzerland AG
ISBN: 9783030692087
This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.
2 937 Kč
- 1 - 2 ks
- 2 937 Kč
- 3 - 10 ks
- 2 908 Kč
- 11 a více ks
- 2 879 Kč
Naše cena 2 937 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 3 125 Kč.
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Springer Nature Switzerland AG ↓
2 937 Kč
Více o produktu ↓
This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.
- Výrobce
- Springer Nature Switzerland AG
- Jazyk
- Switzerland
- Autor
- Huhn, Sebastian;Drechsler, Rolf
- Rozměry
- 235 x 155
- Rok vydání
- 2021
- Počet stran
- 164
- Obsah
- Hardback
- Počet stran
- 164 pages, 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Design for Testability, Debug and Reliability a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
