Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology
Vše od
John Wiley & Sons Inc
ISBN: 9780470978696
By taking a practical approach to the industrial inspection of digital holography, Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology offers a description of the use of digital holography and its growing applications for MEMS characterization, residual stress measurement, design and...
3 112 Kč
- 1 - 2 ks
- 3 112 Kč
- 3 - 10 ks
- 3 081 Kč
- 11 a více ks
- 3 051 Kč
Naše cena 3 112 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 3 311 Kč.
Předpoklad doručení do 19. června *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od John Wiley & Sons Inc ↓
3 112 Kč
Více o produktu ↓
By taking a practical approach to the industrial inspection of digital holography, Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology offers a description of the use of digital holography and its growing applications for MEMS characterization, residual stress measurement, design and evaluation and device testing and inspection.
- Výrobce
- John Wiley & Sons Inc
- Jazyk
- United States
- Autor
- Asundi, Anand (Nanyang Technological University, Singapore)
- Rozměry
- 237 x 164 x 19
- Rok vydání
- 2011
- Počet stran
- 228
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 486
- Počet stran
- 228 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Digital Holography for MEMS and Microsystem Metrology a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
