Digital Noise Monitoring of Defect Origin
Vše od
Springer-Verlag New York Inc.
ISBN: 9780387717531
Digital Noise Monitoring of Defect Origin is for both academics and professionals in the fields of engineering, biological sciences, physical science, and automation with particular emphasis on power engineering, oil-and-gas extraction, and aviation among others.
2 644 Kč
- 1 - 2 ks
- 2 644 Kč
- 3 - 10 ks
- 2 618 Kč
- 11 a více ks
- 2 592 Kč
Naše cena 2 644 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 2 812 Kč.
Předpoklad doručení do 3. června *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Springer-Verlag New York Inc. ↓
2 644 Kč
Více o produktu ↓
Digital Noise Monitoring of Defect Origin is for both academics and professionals in the fields of engineering, biological sciences, physical science, and automation with particular emphasis on power engineering, oil-and-gas extraction, and aviation among others.
- Výrobce
- Springer-Verlag New York Inc.
- Jazyk
- United States
- Autor
- Aliev, Telman
- Rozměry
- 235 x 155
- Rok vydání
- 2007
- Počet stran
- 224
- Obsah
- Hardback
- Počet stran
- 224 pages, XII, 224 p.
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Digital Noise Monitoring of Defect Origin a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
