Electromigration In Ulsi Interconnections
Vše od
World Scientific Publishing Co Pte Ltd
ISBN: 9789814273329
Presents a description of the electro migration in integrated circuits. This book examines the various interconnected systems and their evolution employed in integrated circuit technology. It is suitable for readers on electro migration in ULSI interconnections.
2 938 Kč
- 1 - 2 ks
- 2 938 Kč
- 3 - 10 ks
- 2 909 Kč
- 11 a více ks
- 2 880 Kč
Naše cena 2 938 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 3 125 Kč.
Předpoklad doručení do 28. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od World Scientific Publishing Co Pte Ltd ↓
Rapid Prototyping: Principles And Applications (Third Edition) (With Companion Cd-rom)
do 28. května2 350 Kč
2 938 Kč
Více o produktu ↓
Presents a description of the electro migration in integrated circuits. This book examines the various interconnected systems and their evolution employed in integrated circuit technology. It is suitable for readers on electro migration in ULSI interconnections.
- Výrobce
- World Scientific Publishing Co Pte Ltd
- Jazyk
- Singapore
- Autor
- Tan, Cher Ming (Ntu, S'pore)
- Rok vydání
- 2010
- Počet stran
- 312
- Obsah
- Hardback
- Počet stran
- 312 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Electromigration In Ulsi Interconnections a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
