Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy
Vše od
John Wiley & Sons Inc
ISBN: 9781118456095
Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy od autora Mendis, Budhika G. vydalo nakladatelství John Wiley & Sons Inc ...
3 024 Kč
- 1 - 2 ks
- 3 024 Kč
- 3 - 10 ks
- 2 994 Kč
- 11 a více ks
- 2 965 Kč
Naše cena 3 024 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 3 217 Kč.
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od John Wiley & Sons Inc ↓
3 024 Kč
Více o produktu ↓
- Výrobce
- John Wiley & Sons Inc
- Jazyk
- United States
- Autor
- Mendis, Budhika G.
- Rozměry
- 231 x 158 x 20
- Rok vydání
- 2018
- Počet stran
- 296
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 612
- Počet stran
- 296 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
