Elements of Electromigration
Electromigration in 3D IC technology
Vše od
Taylor & Francis Ltd
ISBN: 9781032470283
In this invaluable resource for graduate students and practicing professionals, Tu and Liu provide a comprehensive account of electromigration and give a practical guide on how to manage its effects in microelectronic devices, especially newer devices that make use of 3D architectures.
1 656 Kč
- 1 - 2 ks
- 1 656 Kč
- 3 - 10 ks
- 1 640 Kč
- 11 a více ks
- 1 624 Kč
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Taylor & Francis Ltd ↓
Resisting Racism and Promoting Equity Through Community-Engaged Social Action
do 27. května4 844 Kč
Resisting Racism and Promoting Equity Through Community-Engaged Social Action
do 11. května1 437 Kč
1 656 Kč
Více o produktu ↓
In this invaluable resource for graduate students and practicing professionals, Tu and Liu provide a comprehensive account of electromigration and give a practical guide on how to manage its effects in microelectronic devices, especially newer devices that make use of 3D architectures.
- Výrobce
- Taylor & Francis Ltd
- Jazyk
- United Kingdom
- Autor
- Tu, King-Ning (City University of Hong Kong);Liu, Yingxia (City University of Hong Kong)
- Rozměry
- 246 x 174
- Rok vydání
- 2025
- Počet stran
- 132
- Obsah
- Paperback / softback
- Hmotnost
- 260
- Počet stran
- 132 pages, 5 Tables, black and white; 27 Line drawings, black and white; 38 Halftones, black and whi
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Elements of Electromigration a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
