EM Wave Propagation Analysis in Plasma Covered Radar Absorbing Material
Vše od
Springer Verlag, Singapore
ISBN: 9789811022685
The role of plasma parameters, such as electron density, collision frequency, plasma thickness, and plasma density profile in the absorption behavior of multi-layered plasma-RAM structure is described.
1 322 Kč
- 1 - 2 ks
- 1 322 Kč
- 3 - 10 ks
- 1 309 Kč
- 11 a více ks
- 1 296 Kč
Naše cena 1 322 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 1 406 Kč.
Předpoklad doručení do 29. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Springer Verlag, Singapore ↓
Interplay of Geo-Politics and Geo-Economics in PakistanÂ’s Foreign Policy (Post-2008)
do 29. května3 231 Kč
1 322 Kč
Více o produktu ↓
The role of plasma parameters, such as electron density, collision frequency, plasma thickness, and plasma density profile in the absorption behavior of multi-layered plasma-RAM structure is described.
- Výrobce
- Springer Verlag, Singapore
- Jazyk
- Singapore
- Autor
- Singh, Hema;Antony, Simy;Rawat, Harish Singh
- Rozměry
- 235 x 155
- Rok vydání
- 2016
- Počet stran
- 43
- Obsah
- Paperback / softback
- Počet stran
- 43 pages, 27 Illustrations, color; 9 Illustrations, black and white; XXI, 43 p. 36 illus., 27 illus.
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s EM Wave Propagation Analysis in Plasma Covered Radar Absorbing Material a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!