EM Wave Propagation Analysis in Plasma Covered Radar Absorbing Material

Singh, Hema;Antony, Simy;Rawat, Harish Singh | Autoři

Vše od Springer Verlag, Singapore
ISBN: 9789811022685

The role of plasma parameters, such as electron density, collision frequency, plasma thickness, and plasma density profile in the absorption behavior of multi-layered plasma-RAM structure is described.

Více o produktu


Nejprodávanější produkty v aktuálním měsíci.

1 322 Kč

1 - 2 ks
1 322 Kč
3 - 10 ks
1 309 Kč
11 a více ks
1 296 Kč

Naše cena 1 322 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 1 406 Kč.

Předpoklad doručení do 29. května *

* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.

1 322 Kč 1 406 Kč

Nepřehlédněte od Springer Verlag, Singapore

Více o produktu

The role of plasma parameters, such as electron density, collision frequency, plasma thickness, and plasma density profile in the absorption behavior of multi-layered plasma-RAM structure is described.

Výrobce
Springer Verlag, Singapore
Jazyk
Singapore
Autor
Singh, Hema;Antony, Simy;Rawat, Harish Singh
Rozměry
235 x 155
Rok vydání
2016
Počet stran
43
Obsah
Paperback / softback
Počet stran
43 pages, 27 Illustrations, color; 9 Illustrations, black and white; XXI, 43 p. 36 illus., 27 illus.

Zanechte své hodnocení

Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s EM Wave Propagation Analysis in Plasma Covered Radar Absorbing Material a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.

Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!