ESD

Failure Mechanisms and Models

Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA) | Autoři

Vše od John Wiley & Sons Inc
ISBN: 9780470511374

Provides a comprehensive analysis of ESD failure mechanisms over a wide range of semiconductor materials, devices, circuits and applications. Sets out methods for eliminating failure mechanisms through workable circuit solutions, including practical examples of failure defects.

Více o produktu


Nejprodávanější produkty v aktuálním měsíci.

3 347 Kč

1 - 2 ks
3 347 Kč
3 - 10 ks
3 314 Kč
11 a více ks
3 281 Kč

Naše cena 3 347 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 3 561 Kč.

Předpoklad doručení do 2. června *

* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.

3 347 Kč 3 561 Kč

Nepřehlédněte od John Wiley & Sons Inc

Více o produktu

Provides a comprehensive analysis of ESD failure mechanisms over a wide range of semiconductor materials, devices, circuits and applications. Sets out methods for eliminating failure mechanisms through workable circuit solutions, including practical examples of failure defects.

Výrobce
John Wiley & Sons Inc
Jazyk
United States
Autor
Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)
Rozměry
176 x 253 x 29
Rok vydání
2009
Počet stran
408
Obsah
Hardback
Hmotnost
820
Počet stran
408 pages

Zanechte své hodnocení

Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s ESD a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.

Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!