Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations
Vše od
World Scientific Publishing Co Pte Ltd
ISBN: 9789814630351
The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution.
1 175 Kč
- 1 - 2 ks
- 1 175 Kč
- 3 - 10 ks
- 1 163 Kč
- 11 a více ks
- 1 152 Kč
Naše cena 1 175 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 1 250 Kč.
Předpoklad doručení do 3. června *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od World Scientific Publishing Co Pte Ltd ↓
Rapid Prototyping: Principles And Applications (Third Edition) (With Companion Cd-rom)
do 3. června2 350 Kč
1 175 Kč
Více o produktu ↓
The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution.
- Výrobce
- World Scientific Publishing Co Pte Ltd
- Jazyk
- Singapore
- Autor
- Reifenberger, Ronald G (Purdue Univ, Usa)
- Rozměry
- 155 x 229 x 19
- Rok vydání
- 2015
- Počet stran
- 340
- Obsah
- Paperback / softback
- Hmotnost
- 492
- Počet stran
- 340 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
