Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

Lienig, Jens;Rothe, Susann;Thiele, Matthias | Autoři

Vše od Springer International Publishing AG
ISBN: 9783031800221

The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration.

Více o produktu


Nejprodávanější produkty v aktuálním měsíci.

3 231 Kč

1 - 2 ks
3 231 Kč
3 - 10 ks
3 199 Kč
11 a více ks
3 168 Kč

Naše cena 3 231 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 3 437 Kč.

Předpoklad doručení do 27. května *

* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.

3 231 Kč 3 437 Kč

Nepřehlédněte od Springer International Publishing AG

Více o produktu

The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration.

Výrobce
Springer International Publishing AG
Jazyk
Switzerland
Autor
Lienig, Jens;Rothe, Susann;Thiele, Matthias
Rozměry
235 x 155
Rok vydání
2025
Počet stran
167
Obsah
Hardback
Počet stran
167 pages, 95 Illustrations, color; 5 Illustrations, black and white; XV, 167 p. 100 illus., 95 illu

Zanechte své hodnocení

Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.

Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!