Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Vše od
Springer-Verlag New York Inc.
ISBN: 9780387857305
The analytical system depends on collecting the x-ray photons that are generated within the sample as a consequence of interaction with the same high energy beam of primary electrons used to produce images.
3 863 Kč
- 1 - 2 ks
- 3 863 Kč
- 3 - 10 ks
- 3 825 Kč
- 11 a více ks
- 3 787 Kč
Naše cena 3 863 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 4 110 Kč.
Předpoklad doručení do 12. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Springer-Verlag New York Inc. ↓
3 863 Kč
Více o produktu ↓
The analytical system depends on collecting the x-ray photons that are generated within the sample as a consequence of interaction with the same high energy beam of primary electrons used to produce images.
- Výrobce
- Springer-Verlag New York Inc.
- Jazyk
- United States
- Autor
- Echlin, Patrick
- Rozměry
- 186 x 268 x 23
- Rok vydání
- 2009
- Počet stran
- 332
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 872
- Počet stran
- 332 pages, 159 Illustrations, color; XII, 332 p. 159 illus. in color.
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
