Handbook of Silicon Semiconductor Metrology
Vše od
Taylor & Francis Inc
ISBN: 9780824705060
Containing more than 300 equations and nearly 500 drawings, photographs, and micrographs, this reference surveys key areas such as optical measurements and in-line calibration methods. It describes cleanroom-based measurement technology used during the manufacture of silicon integrated circuits...
11 563 Kč
- 1 - 2 ks
- 11 563 Kč
- 3 - 10 ks
- 11 449 Kč
- 11 a více ks
- 11 336 Kč
Předpoklad doručení do 28. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Taylor & Francis Inc ↓
11 563 Kč
Více o produktu ↓
Containing more than 300 equations and nearly 500 drawings, photographs, and micrographs, this reference surveys key areas such as optical measurements and in-line calibration methods. It describes cleanroom-based measurement technology used during the manufacture of silicon integrated circuits and covers model-based, overlay, and dopant dose.
- Výrobce
- Taylor & Francis Inc
- Jazyk
- United States
- Rozměry
- 257 x 185 x 49
- Rok vydání
- 2001
- Počet stran
- 894
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 1654
- Počet stran
- 894 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Handbook of Silicon Semiconductor Metrology a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
