High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip
Vše od
Springer Verlag, Singapore
ISBN: 9789811093210
This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors.
2 644 Kč
- 1 - 2 ks
- 2 644 Kč
- 3 - 10 ks
- 2 618 Kč
- 11 a více ks
- 2 592 Kč
Naše cena 2 644 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 2 812 Kč.
Předpoklad doručení do 29. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Springer Verlag, Singapore ↓
Interplay of Geo-Politics and Geo-Economics in PakistanÂ’s Foreign Policy (Post-2008)
do 29. května3 231 Kč
2 644 Kč
Více o produktu ↓
This book introduces a novel framework for accurately modeling the errors in nanoscale CMOS technology and developing a smooth tool flow at high-level design abstractions to estimate and mitigate the effects of errors.
- Výrobce
- Springer Verlag, Singapore
- Jazyk
- Singapore
- Autor
- Wang, Zheng;Chattopadhyay, Anupam
- Rozměry
- 235 x 155
- Rok vydání
- 2018
- Počet stran
- 197
- Obsah
- Paperback / softback
- Počet stran
- 197 pages, 72 Illustrations, color; 32 Illustrations, black and white; XX, 197 p. 104 illus., 72 ill
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
