High-Resolution Electron Microscopy for Materials Science
Vše od
Springer Verlag, Japan
ISBN: 9784431702344
Essential information on appropriate imaging conditions for observing lattice images and structure images is presented, and methods for extracting structural information from these observations are clearly shown, including examples in advanced materials.
1 322 Kč
- 1 - 2 ks
- 1 322 Kč
- 3 - 10 ks
- 1 309 Kč
- 11 a více ks
- 1 296 Kč
Naše cena 1 322 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 1 406 Kč.
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Springer Verlag, Japan ↓
1 322 Kč
Více o produktu ↓
Essential information on appropriate imaging conditions for observing lattice images and structure images is presented, and methods for extracting structural information from these observations are clearly shown, including examples in advanced materials.
- Výrobce
- Springer Verlag, Japan
- Jazyk
- Japan
- Autor
- Shindo, Daisuke;Kenji, Hiraga
- Rozměry
- 210 x 279 x 16
- Rok vydání
- 1998
- Počet stran
- 190
- Obsah
- Paperback / softback
- Hmotnost
- 516
- Počet stran
- 190 pages, IX, 190 p.
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s High-Resolution Electron Microscopy for Materials Science a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
