High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Vše od
Taylor & Francis Ltd
ISBN: 9780850667585
The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining these materials. This book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research. It provides the background for applying these techniques.
6 250 Kč
- 1 - 2 ks
- 6 250 Kč
- 3 - 10 ks
- 6 188 Kč
- 11 a více ks
- 6 127 Kč
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Taylor & Francis Ltd ↓
Resisting Racism and Promoting Equity Through Community-Engaged Social Action
do 27. května4 844 Kč
Resisting Racism and Promoting Equity Through Community-Engaged Social Action
do 11. května1 437 Kč
6 250 Kč
Více o produktu ↓
The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining these materials. This book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research. It provides the background for applying these techniques.
- Výrobce
- Taylor & Francis Ltd
- Jazyk
- United Kingdom
- Autor
- Bowen, D.K.;Tanner, Brian K.
- Rozměry
- 263 x 178 x 20
- Rok vydání
- 1998
- Počet stran
- 262
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 656
- Počet stran
- 262 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
