High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Vše od
Taylor & Francis Ltd
ISBN: 9780367400637
High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography od autora Bowen, D.K.;Tanner, Brian K. vydalo nakladatelství Taylor & Francis Ltd ...
2 187 Kč
- 1 - 2 ks
- 2 187 Kč
- 3 - 10 ks
- 2 165 Kč
- 11 a více ks
- 2 144 Kč
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Taylor & Francis Ltd ↓
Resisting Racism and Promoting Equity Through Community-Engaged Social Action
do 11. května1 437 Kč
Resisting Racism and Promoting Equity Through Community-Engaged Social Action
do 27. května4 844 Kč
2 187 Kč
Více o produktu ↓
- Výrobce
- Taylor & Francis Ltd
- Jazyk
- United Kingdom
- Autor
- Bowen, D.K.;Tanner, Brian K.
- Rozměry
- 246 x 174
- Rok vydání
- 2019
- Počet stran
- 264
- Obsah
- Paperback / softback
- Hmotnost
- 490
- Počet stran
- 264 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
