Introduction to Focused Ion Beams
Instrumentation, Theory, Techniques and Practice
Vše od
Springer-Verlag New York Inc.
ISBN: 9780387231167
Introduction to Focused Ion Beams is geared towards techniques and applications. This is the only text that discusses and presents the theory directly related to applications and the only one that discusses the vast applications and techniques used in FIBs and dual platform instruments.
5 934 Kč
- 1 - 2 ks
- 5 934 Kč
- 3 - 10 ks
- 5 875 Kč
- 11 a více ks
- 5 818 Kč
Naše cena 5 934 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 6 313 Kč.
Předpoklad doručení do 28. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Springer-Verlag New York Inc. ↓
5 934 Kč
Více o produktu ↓
Introduction to Focused Ion Beams is geared towards techniques and applications. This is the only text that discusses and presents the theory directly related to applications and the only one that discusses the vast applications and techniques used in FIBs and dual platform instruments.
- Výrobce
- Springer-Verlag New York Inc.
- Jazyk
- United States
- Rozměry
- 246 x 166 x 27
- Rok vydání
- 2004
- Počet stran
- 357
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 718
- Počet stran
- 357 pages, 28 Illustrations, color; 6 Illustrations, black and white
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Introduction to Focused Ion Beams a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
