Introduction to Scanning Tunneling Microscopy

Chen, C. Julian (Department of Applied Physics and Applied Mathematics, Columbia University, New York) | Autoři

Vše od Oxford University Press
ISBN: 9780198754756

The scanning tunneling and the atomic force microscope, both capable of imaging individual atoms, were crowned with the Physics Nobel Prize in 1986, and are the cornerstones of nanotechnology today. The 1st edition has nurtured numerous beginners and experts since 1993. The 2nd edition is a...

Více o produktu


Nejprodávanější produkty v aktuálním měsíci.

2 031 Kč

1 - 2 ks
2 031 Kč
3 - 10 ks
2 011 Kč
11 a více ks
1 991 Kč

Předpoklad doručení do 27. května *

* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.

2 031 Kč

Nepřehlédněte od Oxford University Press

Více o produktu

The scanning tunneling and the atomic force microscope, both capable of imaging individual atoms, were crowned with the Physics Nobel Prize in 1986, and are the cornerstones of nanotechnology today. The 1st edition has nurtured numerous beginners and experts since 1993. The 2nd edition is a thoroughly updated version of this 'bible' in the field.

Výrobce
Oxford University Press
Jazyk
United Kingdom
Autor
Chen, C. Julian (Department of Applied Physics and Applied Mathematics, Columbia University, New York)
Rozměry
157 x 289 x 30
Rok vydání
2015
Počet stran
488
Obsah
Paperback / softback
Hmotnost
726
Počet stran
488 pages

Zanechte své hodnocení

Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Introduction to Scanning Tunneling Microscopy a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.

Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!