Introduction to Scanning Tunneling Microscopy Third Edition
Vše od
Oxford University Press
ISBN: 9780198856559
This third edition is a thoroughly updated and improved version of the recognized "Bible" of the field.
3 281 Kč
- 1 - 2 ks
- 3 281 Kč
- 3 - 10 ks
- 3 249 Kč
- 11 a více ks
- 3 217 Kč
Předpoklad doručení do 30. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Oxford University Press ↓
3 281 Kč
Více o produktu ↓
This third edition is a thoroughly updated and improved version of the recognized "Bible" of the field.
- Výrobce
- Oxford University Press
- Jazyk
- United Kingdom
- Autor
- Chen, C. Julian (Adjunct Senior Research Scientist and Adjunct Professor, Adjunct Senior Research Scientist and Adjunct Professor, Department of Applied Physics and Applied Mathematics, Columbia University)
- Rozměry
- 240 x 161 x 31
- Rok vydání
- 2021
- Počet stran
- 492
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 994
- Počet stran
- 492 pages, 275
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Introduction to Scanning Tunneling Microscopy Third Edition a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
