Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Instrumentation, Data Analysis, and Applications
Vše od
Wiley-VCH Verlag GmbH
ISBN: 9783527349517
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials od autora Wee, Andrew T. S. (National University of Singapore, Singapore);Yin, Xinmao;Tang, Chi Sin vydalo nakladatelství Wiley-VCH Verlag GmbH s podtitulem Instrumentation, Data Analysis, and Applications...
2 336 Kč
- 1 - 2 ks
- 2 336 Kč
- 3 - 10 ks
- 2 313 Kč
- 11 a více ks
- 2 290 Kč
Naše cena 2 336 Kč je o 15 % nižší než
doporučená cena výrobce 2 749 Kč.
Předpoklad doručení do 28. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Wiley-VCH Verlag GmbH ↓
2 336 Kč
Více o produktu ↓
- Výrobce
- Wiley-VCH Verlag GmbH
- Jazyk
- Germany
- Autor
- Wee, Andrew T. S. (National University of Singapore, Singapore);Yin, Xinmao;Tang, Chi Sin
- Rozměry
- 173 x 246 x 11
- Rok vydání
- 2022
- Počet stran
- 208
- Obsah
- Paperback / softback
- Hmotnost
- 410
- Počet stran
- 208 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
