LabVIEW based Automation Guide for Microwave Measurements

Dubey, Satya Kesh;Narang, Naina;Negi, P. S.;Ojha, V. N. | Autoři

Vše od Springer Verlag, Singapore
ISBN: 9789811062797

The book is focused on measurement automation, specifically using the LabView tool. The book includes many examples, illustrations, flowcharts, measurement results and screenshots of a worked-out automation software for microwave measurement.

Více o produktu


Nejprodávanější produkty v aktuálním měsíci.

1 322 Kč

1 - 2 ks
1 322 Kč
3 - 10 ks
1 309 Kč
11 a více ks
1 296 Kč

Naše cena 1 322 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 1 406 Kč.

Předpoklad doručení do 12. května *

* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.

1 322 Kč 1 406 Kč

Nepřehlédněte od Springer Verlag, Singapore

Více o produktu

The book is focused on measurement automation, specifically using the LabView tool. The book includes many examples, illustrations, flowcharts, measurement results and screenshots of a worked-out automation software for microwave measurement.

Výrobce
Springer Verlag, Singapore
Jazyk
Singapore
Autor
Dubey, Satya Kesh;Narang, Naina;Negi, P. S.;Ojha, V. N.
Rozměry
234 x 156 x 5
Rok vydání
2017
Počet stran
45
Obsah
Paperback / softback
Hmotnost
130
Počet stran
45 pages, 31 Illustrations, color; XIV, 45 p. 31 illus. in color.

Zanechte své hodnocení

Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s LabVIEW based Automation Guide for Microwave Measurements a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.

Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!