Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits

Raji, Mohsen;Ghavami, Behnam | Autoři

Vše od Springer International Publishing AG
ISBN: 9783031153471

They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits.

Více o produktu


Nejprodávanější produkty v aktuálním měsíci.

2 203 Kč

1 - 2 ks
2 203 Kč
3 - 10 ks
2 181 Kč
11 a více ks
2 160 Kč

Naše cena 2 203 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 2 344 Kč.

Předpoklad doručení do 27. května *

* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.

2 203 Kč 2 344 Kč

Nepřehlédněte od Springer International Publishing AG

Více o produktu

They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits.

Výrobce
Springer International Publishing AG
Jazyk
Switzerland
Autor
Raji, Mohsen;Ghavami, Behnam
Rozměry
235 x 155
Rok vydání
2023
Počet stran
107
Obsah
Paperback / softback
Počet stran
107 pages, 13 Illustrations, color; 18 Illustrations, black and white

Zanechte své hodnocení

Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.

Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!