Lifetime Spectroscopy

A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications

Rein, Stefan | Autoři

Vše od Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
ISBN: 9783540253037

Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime...

Více o produktu


Nejprodávanější produkty v aktuálním měsíci.

7 344 Kč

1 - 2 ks
7 344 Kč
3 - 10 ks
7 271 Kč
11 a více ks
7 200 Kč

Naše cena 7 344 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 7 812 Kč.

Předpoklad doručení do 11. června *

* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.

7 344 Kč 7 812 Kč

Nepřehlédněte od Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG

Více o produktu

Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques.

Výrobce
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Jazyk
Germany
Autor
Rein, Stefan
Rozměry
166 x 241 x 37
Rok vydání
2005
Počet stran
492
Obsah
Hardback
Hmotnost
950
Počet stran
492 pages, XXVI, 492 p.

Zanechte své hodnocení

Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Lifetime Spectroscopy a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.

Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!