Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Modeling, Analysis and Optimization
Vše od
Springer Nature Switzerland AG
ISBN: 9783030261740
Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems od autora Tan, Sheldon;Tahoori, Mehdi;Kim, Taeyoung;Wang, Shengcheng;Sun, Zeyu;Kiamehr, Saman vydalo nakladatelství Springer Nature Switzerland AG s podtitulem Modeling, Analysis and Optimization...
3 819 Kč
- 1 - 2 ks
- 3 819 Kč
- 3 - 10 ks
- 3 781 Kč
- 11 a více ks
- 3 744 Kč
Naše cena 3 819 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 4 062 Kč.
Předpoklad doručení do 30. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Springer Nature Switzerland AG ↓
3 819 Kč
Více o produktu ↓
- Výrobce
- Springer Nature Switzerland AG
- Jazyk
- Switzerland
- Autor
- Tan, Sheldon;Tahoori, Mehdi;Kim, Taeyoung;Wang, Shengcheng;Sun, Zeyu;Kiamehr, Saman
- Rozměry
- 235 x 155
- Rok vydání
- 2020
- Počet stran
- 460
- Obsah
- Paperback / softback
- Počet stran
- 460 pages, 195 Illustrations, color; 16 Illustrations, black and white; XLI, 460 p. 211 illus., 195
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
