Low Substrate Temperature Modeling Outlook of Scaled n-MOSFET
Vše od
Springer International Publishing AG
ISBN: 9783031009068
In addition, subthreshold slope which is an indicator of how speedily the device drain current can be switched between near off current and maximum drain current is an important device attribute to model at lower operating substrate temperatures.
822 Kč
- 1 - 2 ks
- 822 Kč
- 3 - 10 ks
- 814 Kč
- 11 a více ks
- 806 Kč
Naše cena 822 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 875 Kč.
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Springer International Publishing AG ↓
822 Kč
Více o produktu ↓
In addition, subthreshold slope which is an indicator of how speedily the device drain current can be switched between near off current and maximum drain current is an important device attribute to model at lower operating substrate temperatures.
- Výrobce
- Springer International Publishing AG
- Jazyk
- Switzerland
- Autor
- Ashraf, Nabil Shovon
- Rozměry
- 235 x 191
- Rok vydání
- 2018
- Počet stran
- 77
- Obsah
- Paperback / softback
- Počet stran
- 77 pages, XI, 77 p.
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Low Substrate Temperature Modeling Outlook of Scaled n-MOSFET a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
