Measurement and Modeling of Silicon Heterostructure Devices
Vše od
Taylor & Francis Inc
ISBN: 9781420066920
Focuses on measurement and modeling of high-speed conductor devices. This book provides experience-based tricks of the trade and the subtle nuances of measuring and modeling. It covers topics including compact modeling using integrated CAD tools and design kits, noise mitigation approaches,...
5 313 Kč
- 1 - 2 ks
- 5 313 Kč
- 3 - 10 ks
- 5 260 Kč
- 11 a více ks
- 5 209 Kč
Předpoklad doručení do 10. června *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Taylor & Francis Inc ↓
5 313 Kč
Více o produktu ↓
Focuses on measurement and modeling of high-speed conductor devices. This book provides experience-based tricks of the trade and the subtle nuances of measuring and modeling. It covers topics including compact modeling using integrated CAD tools and design kits, noise mitigation approaches, Germanium RF designs, and, transmission lines.
- Výrobce
- Taylor & Francis Inc
- Jazyk
- United States
- Autor
- Cressler, John D. (Georgia Institute of Technology, Atlanta, USA)
- Rozměry
- 189 x 264 x 20
- Rok vydání
- 2007
- Počet stran
- 198
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 522
- Počet stran
- 198 pages, 14 Tables, black and white; 9 Halftones, black and white; 95 Illustrations, black and whi
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Measurement and Modeling of Silicon Heterostructure Devices a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
