Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics
Vše od
Pan Stanford Publishing Pte Ltd
ISBN: 9789814745086
Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics vydalo nakladatelství Pan Stanford Publishing Pte Ltd ...
10 469 Kč
- 1 - 2 ks
- 10 469 Kč
- 3 - 10 ks
- 10 365 Kč
- 11 a více ks
- 10 264 Kč
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Pan Stanford Publishing Pte Ltd ↓
10 469 Kč
Více o produktu ↓
- Výrobce
- Pan Stanford Publishing Pte Ltd
- Jazyk
- Singapore
- Rozměry
- 163 x 236 x 54
- Rok vydání
- 2016
- Počet stran
- 1454
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 1900
- Počet stran
- 1454 pages, 249 Illustrations, color; 452 Illustrations, black and white
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
