Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices
Vše od
Springer International Publishing AG
ISBN: 9783319819068
This thesis presents the first direct observations of the 3D-shape, size and electrical properties of nanoscale filaments, made possible by a new Scanning Probe Microscopy-based tomography technique referred to as scalpel SPM.
2 644 Kč
- 1 - 2 ks
- 2 644 Kč
- 3 - 10 ks
- 2 618 Kč
- 11 a více ks
- 2 592 Kč
Naše cena 2 644 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 2 812 Kč.
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Springer International Publishing AG ↓
2 644 Kč
Více o produktu ↓
This thesis presents the first direct observations of the 3D-shape, size and electrical properties of nanoscale filaments, made possible by a new Scanning Probe Microscopy-based tomography technique referred to as scalpel SPM.
- Výrobce
- Springer International Publishing AG
- Jazyk
- Switzerland
- Autor
- Celano, Umberto
- Rozměry
- 235 x 155
- Rok vydání
- 2018
- Počet stran
- 175
- Obsah
- Paperback / softback
- Počet stran
- 175 pages, 18 Illustrations, color; 78 Illustrations, black and white; XXIV, 175 p. 96 illus., 18 il
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
