Microprobe Characterization of Optoelectronic Materials
Vše od
Taylor & Francis Inc
ISBN: 9781560329411
Discusses microprobe technique and its usefulness as diagnostic technique for device degradation. This book considers various types of probes (electrons, photons and tips) and different microscopes (optical, electron microscopy and tunneling). It is suitable for researchers, crystal growers and...
16 406 Kč
- 1 - 2 ks
- 16 406 Kč
- 3 - 10 ks
- 16 244 Kč
- 11 a více ks
- 16 084 Kč
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Taylor & Francis Inc ↓
16 406 Kč
Více o produktu ↓
Discusses microprobe technique and its usefulness as diagnostic technique for device degradation. This book considers various types of probes (electrons, photons and tips) and different microscopes (optical, electron microscopy and tunneling). It is suitable for researchers, crystal growers and optoelectronic device makers.
- Výrobce
- Taylor & Francis Inc
- Jazyk
- United States
- Autor
- Jimenez, Juan
- Rozměry
- 229 x 152
- Rok vydání
- 2002
- Počet stran
- 730
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 1111
- Počet stran
- 730 pages, 401 Illustrations, color
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Microprobe Characterization of Optoelectronic Materials a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
