Microstructural Characterization of Materials

Brandon, David (Technion - Israel Institute of Technology);Kaplan, Wayne D. (Technion - Israel Institute of Technology) | Autoři

Vše od John Wiley & Sons Inc
ISBN: 9780470027851

Microstructural characterization is usually achieved by allowing some form of probe to interact with a carefully prepared specimen. The most commonly used probes are visible light, X-ray radiation, a high-energy electron beam, or a sharp, flexible needle.

Více o produktu


Nejprodávanější produkty v aktuálním měsíci.

1 526 Kč

1 - 2 ks
1 526 Kč
3 - 10 ks
1 511 Kč
11 a více ks
1 496 Kč

Naše cena 1 526 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 1 624 Kč.

Předpoklad doručení do 3. června *

* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.

1 526 Kč 1 624 Kč

Nepřehlédněte od John Wiley & Sons Inc

Více o produktu

Microstructural characterization is usually achieved by allowing some form of probe to interact with a carefully prepared specimen. The most commonly used probes are visible light, X-ray radiation, a high-energy electron beam, or a sharp, flexible needle.

Výrobce
John Wiley & Sons Inc
Jazyk
United States
Autor
Brandon, David (Technion - Israel Institute of Technology);Kaplan, Wayne D. (Technion - Israel Institute of Technology)
Rozměry
245 x 169 x 30
Rok vydání
2008
Počet stran
560
Obsah
Paperback / softback
Hmotnost
914
Počet stran
560 pages

Zanechte své hodnocení

Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Microstructural Characterization of Materials a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.

Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!