Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Vše od
ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
ISBN: 9781848219366
This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.
4 082 Kč
- 1 - 2 ks
- 4 082 Kč
- 3 - 10 ks
- 4 042 Kč
- 11 a více ks
- 4 002 Kč
Naše cena 4 082 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 4 342 Kč.
Předpoklad doručení do 28. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc ↓
Technical and Economical Evaluation of Products at the Early Development Stage
do 28. května3 878 Kč
4 082 Kč
Více o produktu ↓
This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.
- Výrobce
- ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
- Jazyk
- United Kingdom
- Autor
- Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France);Pougnet, Philippe (Vedecom Institute, Versailles, France);El Hami, Abdelkhalak (Institut National des Sciences Appliquees (INSA-Rouen), France)
- Rozměry
- 241 x 165 x 23
- Rok vydání
- 2016
- Počet stran
- 320
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 612
- Počet stran
- 320 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
