Nanometer Technology Designs
High-Quality Delay Tests
Vše od
Springer-Verlag New York Inc.
ISBN: 9780387764863
Supply noise (including IR-drop, ground bounce, and Ldi/dt) effects on chip performance, high test pattern volume, low fault/defect coverage, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges.
2 644 Kč
- 1 - 2 ks
- 2 644 Kč
- 3 - 10 ks
- 2 618 Kč
- 11 a více ks
- 2 592 Kč
Naše cena 2 644 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 2 812 Kč.
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Springer-Verlag New York Inc. ↓
2 644 Kč
Více o produktu ↓
Supply noise (including IR-drop, ground bounce, and Ldi/dt) effects on chip performance, high test pattern volume, low fault/defect coverage, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges.
- Výrobce
- Springer-Verlag New York Inc.
- Jazyk
- United States
- Autor
- Ahmed, Nisar
- Rozměry
- 242 x 164 x 22
- Rok vydání
- 2007
- Počet stran
- 281
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 626
- Počet stran
- 281 pages, 140 Illustrations, black and white; XVIII, 281 p. 140 illus.
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Nanometer Technology Designs a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
