On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond
Vše od
River Publishers
ISBN: 9788770221122
This book presents solutions for accurate mm-wave characterization of advanced semiconductor devices. It guides through the process of development, implementation and verification of the in-situ calibration methods optimized for high-performance silicon technologies.
3 031 Kč
- 1 - 2 ks
- 3 031 Kč
- 3 - 10 ks
- 3 001 Kč
- 11 a více ks
- 2 972 Kč
Předpoklad doručení do 28. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od River Publishers ↓
Energy-efficient Buildings in the Mediterranean: Challenges, Strategies, and Innovations
do 28. května3 438 Kč
Electric and Hybrid Vehicles: A Solution to Green Transportation and Resilient Grid
do 28. května3 438 Kč
3 031 Kč
Více o produktu ↓
This book presents solutions for accurate mm-wave characterization of advanced semiconductor devices. It guides through the process of development, implementation and verification of the in-situ calibration methods optimized for high-performance silicon technologies.
- Výrobce
- River Publishers
- Jazyk
- Denmark
- Autor
- Rumiantsev, Andrej
- Rozměry
- 234 x 156
- Rok vydání
- 2019
- Počet stran
- 278
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 526
- Počet stran
- 278 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
