Optical Inspection of Microsystems, Second Edition
Vše od
Taylor & Francis Inc
ISBN: 9781498779470
This book provides an up-to-date survey of the most important and widely used full-field optical metrology and inspection technologies. Techniques such as interference microscopy, laser Doppler vibrometry, holography, speckle metrology, spectroscopy and deflectrometry and digital holographic...
7 344 Kč
- 1 - 2 ks
- 7 344 Kč
- 3 - 10 ks
- 7 271 Kč
- 11 a více ks
- 7 200 Kč
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Taylor & Francis Inc ↓
7 344 Kč
Více o produktu ↓
This book provides an up-to-date survey of the most important and widely used full-field optical metrology and inspection technologies. Techniques such as interference microscopy, laser Doppler vibrometry, holography, speckle metrology, spectroscopy and deflectrometry and digital holographic microscropy for the inspection of MEMS.
- Výrobce
- Taylor & Francis Inc
- Jazyk
- United States
- Rozměry
- 188 x 262 x 30
- Rok vydání
- 2019
- Počet stran
- 570
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 1380
- Počet stran
- 570 pages, 20 Tables, black and white; 25 Illustrations, color; 477 Illustrations, black and white
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Optical Inspection of Microsystems, Second Edition a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
